您的位置:易推广 > 物理仪器 > 测厚仪 > 测厚仪 > 深圳市大茂电子有限公司苏州办事处 > 产品展示 > 压力变送器 > X-荧光镀层测厚仪

产品展示

X-荧光镀层测厚仪

点击次数:329发布时间:2009/11/2 0:00:00

X-荧光镀层测厚仪

更新日期:2012/3/8 16:46:51

所 在 地:美国

产品型号:CMI900

简单介绍:CMI 900 / 950 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层
厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析.

相关标签:cmi/测厚仪 

优质供应

详细内容

CMI做为品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准,南华地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具

X-荧光镀层测厚仪CMI900 / 950金属镀层厚度的精确测量

 

CMI 900 / 950 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层
厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供、快速的分析.基于Windows2000
中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包,实现了对CMI900/950主机的自动化控制,

 

技术参数:                 

 

CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都于全世界的测厚行业

A  CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层

(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定*多5层、15 种元素。

B :精确度于世界,精确到0。025um  (相对与标准片)

C :数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求 ;

如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。

D :统计功能提供数据平均值、误差分析、值、*小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品;

E :可测量任一测量点,*小可达0.025 x 0.051毫米

样品台选择:
CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为:
 一:手动样品台
1 标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
2 扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 
3 可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。 

二:自动样品台

1   程控样品台:XYZ轴自动控制。 
2   超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。 

CMI950系列采用开闭式样品室,以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样,CMI950可提供四种规格的样品台供用户选用,分别为:
1   全程控样品台:XYZ 三轴程序控制样品台,可接纳的样品高度为150mm,XY 轴程控移动范围为       300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。 
2   Z轴程控样品台:XY轴手动控制,Z轴自动控制,可接纳的样品高度为270mm。

3         全手动样品台:XYZ三轴手动控制,可接纳的样品高度为356mm。 
可扩展式样品台用于接纳超大尺寸样品。 

 

 

CMI900/950主要技术规格如下:

 

No.

主要规格

规格描述

1

X射线激发系统

垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管,Be窗

标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等

功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准

      75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选

X射线管功率可编程控制

装备有安全防射线光闸

 

2

滤光片程控交换系统

根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统

二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口

 

3

准直器程控交换系统

*多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制

多种规格尺寸准直器任选:

-圆形,如4、6、8、12、20 mil等

-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

 

4

测量斑点尺寸

在12.7mm聚焦距离时,*小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)

在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)

 

5

X射线探测系统

封气正比计数器

装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路

 

6

样品室

CMI900

CMI950

 

-样品室结构

开槽式样品室

开闭式样品室

-样品台尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

-XY轴程控移动范围

标准:152.4 x 177.8mm

任选:50.8mm x 152.4mm

      50.4mm x 177.8mm

      101.6 x 177.8mm

      177.8 x 177.8mm

      610mm x 610mm

300mm x 300mm

-Z轴程控移动高度

43.18mm

XYZ程控时,152.4mm

XY轴手动时,269.2mm

-XYZ三轴控制方式

多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

 

 

联系我们

联系人:刘平

点击查看联系方式

企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

script>
在线咨询

提交