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膜厚计

点击次数:349发布时间:2009/11/2 0:00:00

膜厚计

更新日期:2012/3/8 16:46:51

所 在 地:北京

产品型号:TT240膜厚计

简单介绍:时代TT240氧化膜测厚仪采用了涡流测厚法,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基体上的:珐琅、橡胶、油漆、塑料层等)。可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、...

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时代TT240膜厚计

TT240采用了涡流测厚法,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基体上的:珐琅、橡胶、油漆、塑料层等)。可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。本仪器是材料保护专业必备的仪器。

特点:

  • 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

  • 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);

  • 设有五个统计量:平均值(MEAN)、值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);

  • 可进行零点校准和二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;

  • 具有存贮功能:可存贮300个测量值;

  • 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;

  • 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;

  • 具有打印:可打印测量值、统计值;

  • 具有与PC机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC机,以便对数据进行进一步处理;

  • 具有电源欠压指示功能;

  • 操作过程有蜂鸣声提示;

  • 具有错误提示功能;

  • 具有自动关机功能。

技术规格:
 
测量范围
(μm)
待测基体*小曲率半径(mm) 基体*小面积的直径
(mm)
低限分辨力(μm)示值误差(μm)
零点校准二点校准
0~1250凸3Φ50.1±(3%H+1.5)±[(1%~3%)H+1.5]
标准配置TT240主机 (带N1测头)1台、标准片5片、铝基体1块、AA型碱性电池2节
可选件TA220S打印机1台、通讯电缆1条、通讯软件1个、橡胶护套1个

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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