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技术文章
方阻测量时保护探头的重要性
方阻也称为方块电阻，指一个正方形的薄膜导电材料边到边间的电阻作为描述。
涂层类，镀膜类产品基本上都是通过测量方阻的形式来衡量样品的厚度。
方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的
影响方阻的因素主要有以下几个方面：
探针与边缘的距离；
探针之间的等距离
一般测量方阻的仪器有手持式和台式两种，这也是目前市场上比较常见的，
手持式的FT-392手持式四探针测试仪;台式的FT-331四探针方阻测试仪；
手持式的精度一般都比台式的低些，台式的量程宽些，当然，精度也高很多。
方阻仪测量特别注意对探头的保护，探针的保护是非常重要的，我们很多使用者，从出现探针被弄坏，探针丢失，探针没有弹性，以及探针形变等，这些都是由于保管不到位造成的，正常情况下，一付探针的使用寿命可以达到3年左右，比较频繁的使用条件下。
方阻测试对环境要求也是比较高的，建议在相当恒定的环境下测量，减少温度，湿度偏差及其他不确定性操作的数据偏差，
同时建议在测试中，采用PC软件来做分析，这样可以观察过程数据变化及数据的保存等，都是不错的选择。
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等
参数资料
1.方块电阻范围：10-5～2×106Ω/□
2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：≤0.3%
6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 双电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
原创作者：宁波瑞柯微智能科技有限公司
