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方阻计@薄膜方阻测试仪操作方法#技术新闻
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据技术部7月18日11点08分透露：方阻计@薄膜方阻测试仪操作方法#技术新闻http://www.app17.com/c101739/products/d9733319.html
一、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪概述：
方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪仪按照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确。
二、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪适用范围：
方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表。
三、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪产品特点：
方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。
四、方阻计@FT-336型薄膜方阻测试仪参数资料：
1、方块电阻范围：10-2～2×103Ω/□
2、电阻率范围：10-3～2×104Ω-cm
3、测试电流范围：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4、电流精度：±0.3%读数
5、电阻精度：≤0.5%
6、显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7、测试方式: 普通单电测量
8、工作电源:输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9、整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
10、选购功能:
（1）选购1.pc软件；
（2）选购2.方形探头；
（3）选购3.直线形探头；
（4）选购4.测试平台
11、测试探头：
（1）探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格;
（2）探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
原创作者：宁波瑞柯微智能科技有限公司
