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上海锡明开辟二极管芯片计数检测系统新领域

点击次数:63发布时间:2009/11/2 0:00:00

上海锡明开辟二极管芯片计数检测系统新领域

更新日期:2009/7/31 15:39:01

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简单介绍:上海锡明光电|在机器视觉检测|中开辟了|二极管芯片计数检测系统|新领域

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上海锡明光电|在机器视觉检测|中开辟了|二极管芯片计数检测系统|新领域一、行业应用1.项目背景作为LED的核心部件,管芯(二极管芯片)的工艺要求极高。从wafer上划裂然后倒膜至蓝膜上后需要经过严格的电测,测试参数决定了管芯的等级。除此还会进行人工的全检外观目测,通过吸管把外观不良的芯片剔除。作为产品的管芯有圆片和方片之分,但不管哪种都是已经经过人工剔除工序的产品,管芯数量就和之前确定的数量有很大差别,如何得到产品上*后工序以后的管芯数量靠人眼判断的话就存在很大的难度。二极管芯片计数系统就应运而生。2.产品说明右边产品是圆片案例,管芯数目超过4万。扩膜以后的圆片直径在6公分左右。二、系统说明1.系统配置1)硬件影像设备,光照设备,打印设备,扫描设备,主机设备。2)软件图像调整模块,计数模块,参数优化模块,标签设计模块,统计模块。软件界面如右图所示。2.性能介绍1)可同时检测方片和圆片2)具有4万颗以上管芯的圆片计算时间在0.8秒以内。普通5千颗以下的方片计算时间在0.2秒以内。3)高均匀的背景光照和大面阵的图像采集设备保证了数量巨大,间距极小的管芯图像的清晰度。4)高性能的管芯分割算法确保计数精度。5)局部结果放大观测功能(见软件界面中的黑色点状区域)确保软件参数设置准确。6)管芯有不同型号,不同蓝膜背景,系统配有对应的调整参数。7)自动搜寻服务器上相关产品的电测参数文件,提取特定信息生成固定文件及打印标签。

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