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产品展示

AJ纳米颗粒显微镜形貌图处理及分析软件系统

点击次数:425发布时间:2009/11/2 0:00:00

AJ纳米颗粒显微镜形貌图处理及分析软件系统

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:上海

产品型号:V1.0

简单介绍:本软件系统采用了许多空间域和频域上定义的与ASME和ASTM标准相容的参数,以可视化的方式从图形、数据多方面努力刻画好、表达好形貌图的特征。

优质供应

详细内容

功能列表:
1)软件系统内容清单:视图部分
01-顶视图 02-三维视图 03-游览 04-多重视图

2)软件系统内容清单:分析部分
05—剖面分析 06—阶梯分析 07-深度分析 08-Bearing分析 09-颗粒分析
10-粗糙度分析11—宽度分析 12-自相关分析 13-功率谱分析 14—功率谱比较
15—Bearing比较

3)软件系统内容清单:变换部分
16—图像平整(Flatten)17—低通滤波 18—高通滤波 19—清除噪声线
20—图像缩放(Zoom) 21—图像缩放(Resize)22—选择区域截取23—图像相减
24—图像反转 25—图像旋转 26—平面拟合(Plane Fit)A27—边缘增强
27(b)—边缘检测:这主要是为颗粒显微镜分离颗粒准备的 28—二维功率谱
29—高斯滤波 30—中值滤波A31—卷积
4)辅助性工具

32—设置颜色 33—屏幕输出到文件, 到打印机打印输出

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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