X荧光RoHS测试仪定量分析

必须注意的是：x射线荧光光谱分析值提供管制物质以元素形式存在与否的信息。必须特别注意例如Cr以及Br，所得的结果是总Cr和总的Br，而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的时候，六价铬，PBB，PBDE必须使用确认测试程序进行确认。另一方面，如果没有Cr,Br的存在，那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。

分析方法必须小心的执行校正，考虑：光谱干扰，基体效应以及其他影响，其可能影响荧光辐射的强度。
A:Cd,可能受到Br,Pb,Sn以及Sb的干扰
B:Pb:可能受到Br的干扰
C:Hg:可能受到Br，以及Pb的干扰，在样品含有高浓度的Ca,Fe的时候。
D:Cr:受到Cl的干扰
E:Br:可能受到Pb和fe的干扰。

另外样品的厚度对于荧光的强度有影响，特别是在测定Cd的时候。参考样品必须和样品的厚度相同，具有可比性。
总的讲来，XRF是一种比较分析方法，分析结果总是基于分析校正作为RoHS2.0测试仪，可与液相色谱仪（检测RoHS2.0中邻苯二甲酸酯6P、7P）配合使用，组成RoHS2.0整套检测仪器方案。

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