1、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm

2、样品腔尺寸：300*360*100mm；

3、检测厚度：1nm

4、检测厚度上限，50 - 80um（视材料而定）

5、*多测试层数：10层

6、测量时间 ：60-200s ( 系统自动调整 )

7、*佳分辨率：见下面探测系统详细参数说明

8、准直器：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自动切换

9、滤光片：5种滤光片自动切换

10、CCD观察：260万像素高清CCD

11、样品微动范围：XY15mm

12、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

13、额定功率：350W

14、重量：约45Kg

15、工作环境温度：温度15—30℃

16、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

17、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%

1. 预置多条工作曲线，涵盖铜基体、铁基体、锌基体等基体类型的常见镀层，可满足用户常规镀层测量的要求；

2. 华唯独创VisualFp基本参数法分析软件，在分析镀层厚度的同时分析基材及镀层成分含量，实用价值大大超出客户的想象空间；

3. 人性化的软件界面与操作方法，使用独有图形显示技术，既方便又直观；结合大量操作经验优化操作步骤，极大方便用户；

4. 完善的安全连锁功能：配合硬件电路的防护措施，在不安全的操作发生时自动切断X射线确保操作员不受X射线伤害；

5. 数据管理：由数据库支持的专业化报表生成、查询打印等功能极大方便企业管理；

6. 智能化软件保护，避免不当操作对光谱仪的损伤，延长仪器使用寿命；

7. 数据自动保存：所有样品测试后的数据均会自动保存，测试结果具有可追溯性；

8. 稳定性自检功能：可即时对仪器当前稳定性进行自动检测；

软件具有对多次测试结果的统计功能，极大地方便客户数据管理。