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SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪
点击次数：222发布时间：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：韩国
产品型号：
相关标签：光学薄膜测厚仪
优质供应
详细内容
SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪特点
1） 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2） 可获得厚度和 n,k 数据。
3） 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4） 可测量3层以内的多层膜。
5） 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6） 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品
7）可测量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP专用）
SpectraThick4000 薄膜厚度测量仪产品规格/型号
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
