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天瑞仪器携新品亮相电镀产业行业盛会
点击次数：267 发布时间：2024/1/18
2024年1月13-14日，电镀产业行业盛会将在昆山皇冠假日酒店隆重举办。江苏天瑞仪器股份有限公司应邀参会，届时，将携镀层膜厚检测新品及解决方案亮相现场。
产品展示：
EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦精准分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。
应用域：
紧固件行业镀层检测、汽车零配件行业镀层检测、金手指镀层检测、晶元镀层检测
我们的服务：
天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供更具竞争力的解决方案和服务。
产品展示：
EDX2000A 能量色散X荧光镀层测厚仪
EDX600PLUS 能量色散X荧光镀层测厚仪
EDX600PRO 能量色散X荧光镀层测厚仪
EDX-T 能量色散X荧光镀层测厚仪
天瑞仪器拥有业的研发团队，集多年X荧光镀层测厚测量技术经验研发的膜厚仪可对超薄微小尺寸、复杂形状、复合镀层等样品进行快对焦精准分析，也可实现对电镀液和镀层元素含量的测定。EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦精准分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。
应用域：
紧固件行业镀层检测、汽车零配件行业镀层检测、金手指镀层检测、晶元镀层检测
