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参数规格
1.元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
3.测量时间：60-300；
4.RoHS指令有害元素检测限Cd/Pb/Cr/Hg/Br低达2ppm, Cl低达50ppm（因基体不同检出限可能存在定差异）；
5.多次测量重复性可达0.1％（总荧光强度）；
6.工作稳定性为0.1％；（总荧光强度）；基本配置标准：
1.探测器：采用际上的由美生产的新代半导体Si-pin探测器；
2.置放大器与主放大器电路：新设计的置放大器电路；
3.X光管：铑靶材；
4.X光管高压电源：管压：50Kv；管流：50-1500uA ；
5.X射线：下照式 ，可满足各种形状样品的测试需求；
6.准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用；
7.超大样品腔：封闭式大样品腔（520mm×320mm×120mm）；
8.移动样品台：手动二维移动平台，样品定位 ；
9.摄像头：140万象素CCD摄像头；
10.计算机配置：联想电脑；
11.打印机：品牌喷墨打印机；
12.测试软件：ROHS；合号；金属镀层等分析软件；
应用域
1.RoHS及卤素检测分析。
2.八大重金属检测
3.金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
4.地矿等资源类的元素分析
5.检测机构；电镀行业。
