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产品展示

韩国Micr Pioneer 系列荧光金属镀层测厚仪

点击次数:381发布时间:2009/11/2 0:00:00

韩国Micr Pioneer 系列荧光金属镀层测厚仪

更新日期:2012/3/8 16:46:51

所 在 地:韩国

产品型号:XRF-2000

简单介绍:Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金层厚度.

相关标签:测厚仪 

优质供应

详细内容

可测元素范围:

钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围:

原子序22-25,0.1-0.8μm

26-40,0.05-35μm

43-52,0.1-100μm

72-82,0.05-5μm

X-射线管:油冷,超微细对焦

高压:0-50KV(程控)

准直器:

固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

电脑系统:IBM相容,17”显示器

 

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析

镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.

统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便的控制品质.

 

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联系人:赵欣

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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