HPQN-X型挠度仪

仪器简介：

HPQN-X型挠度仪是采用目前国内外的图像散斑识别技术及图像模糊识别技术，现场无需靶标或其他特征标志点，仅一台主机即可同时测量多点动态挠度、静态挠度、位移和振动等数据。

仪器特点：（ ※为HPQN-X型挠度仪独有的技术指标）

※1、基点修正功能：

远距离非接触式挠度测量方法的问题就是仪器端受风力、地面振动、大地脉动等环境

干扰因素影响较大，直接影响测量数据的可靠性和准确性。在使用此类仪器时，很多厂家给

用户的建议通常是，环境干扰是不能克服的，只能在试验室或选择环境较好的现场来获得有效的数据。而我公司则一直致力于不断的完善仪器性能，提高仪器的稳定性来适应现场的使用环境。所以，我公司的HPQN-X型挠度仪较国内其他同类仪器，除具有基线平移功能外，另增设了基点修正功能，消除环境因素对仪器端的影响。

※2、光影修正功能

光学仪器受光影变化影响非常大，在检测时间超过30分钟时受太阳光影变化的影响，会出现测点偏移的情况（我们一般称为跑点），通往我们研发人员的不断努力，在软件中加入的大量算法之后，已经完全克服了光影变化对测点的影响。

※3、全屏扫描功能

挠度仪在测试过程中，要求绝对通视，测试过程中不能有任何遮挡，否则测点将会丢失。而我公司的挠度仪增加了全屏扫描功能，在测试过程中，如果有飞鸟、飞虫、树叶或其他偶发因素对仪器视野进行遮挡了，但短暂遮挡结束后，通过全屏自动扫描原测点，可以顺利找回遮挡前的测点。

※4、测量速度快

本仪器采用4核8线程64位操作系统作为软件运行平台，较国内其他同类仪器采用的32位操作系统的运算速度快一倍。所以，在测8个动态测点以下（相对点较少时），我们会比同类仪器的测量速度会快一倍，而在测15个动态测点以下（相对点较多时），HPQN-X型挠度仪依然可以保持117Hz（即每秒采集117次数据的采样频率，跟其他厂家测8个动态测点的采样频率一样），在采样频率60 Hz时，同时采集50个动态挠度点。

技术指标：（ ※为HPQN-X型挠度仪独有的技术指标）

※控制器：笔记本采用四核八线程酷睿I7处理器，8G内存，64位操作系统；

※软件增项：基点修正（消除自然环境对仪器端的干扰），光影修正(消除光影变化干扰)，丢点自动找回（消除短期遮挡干扰），基线平移；

检测距离：0.1~500m；

视场范围：0.01mm~300m；

检测分辨率：视场范围的十万分（例：视场为10m×7m，则分辨率约为0.1mm）；

测量精度：±0.02mm（检测距离10m）；

测距精度：±1mm；

倾角精度：2″；

镜头焦距：8/16/25/50/75/100mm（可选）；

检测模式：现场模式或录制工况视频；

※动态测量点数：15个测点（117HZ）\50个测点（60HZ）；静态测量点数：无限制；

采样频率：0.01~117Hz；