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x荧光光谱仪

点击次数:147发布时间:2009/11/2 0:00:00

x荧光光谱仪

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:苏州

产品型号:EDX3000B

简单介绍:针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
也可以测量镀层厚度

优质供应

详细内容

针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
也可以测量镀层厚度

ROHS指令检测主要技术指标

※. 分析精度:0.05%
※. 样品室尺寸:1000*1000*300MM
※. 测量时间:60-300秒
※. 工作电源:220U±5U
※. 高 压:15-50KV
※. 管 流:600μA
※. 计数率:1300-8000Cps
※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
※. 检测时间为200秒
※. 电致冷硅针半导体探测器
※. 加强金属元素感度分析
 
仪器基本配置
 
※.单样品腔
※.计算机、喷墨打印机
※.硅针半导体探测器
※.硅针半导体探测器
※.放大电路
※.高低压电源
※.X光管
※.无真空腔体

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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