产品展示
优质供应
详细内容
JL-9200（9000、9100）、SKL-07型激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的衍射（散射）谱经计算机进行处理来分析其颗粒分布的。可用来测量各种固态颗粒、测量雾滴，气泡及任何二相悬浮颗粒状物质的粒度分布，测量运动颗粒群的粒度分布。它不受颗粒的物理、化学性质的限制。有超声、循环的样品分散系统，测量范围广，自动化程度高，操作方便，测试速度快，测量结果、、重复性好。是石油化工、陶瓷、染料、水泥、煤粉、研磨材料、金属粉末、泥沙、矿石、雾滴、乳浊液等粒度分析的理想仪器。
主要技术指标
准 确 度：体积（重量）不确定范围达到GBW（E120009C）标准物质用于一般仪器鉴定规程的要求
测量速度：单次光学采样20微秒并行,处理时间少于1分钟
测量方式：静态、液态、液态循环
结果输出：打印，各级颗粒体积（重量）与颗粒数的直方图、百分比、累计百分比、D10粒径、D50粒径、D90粒径、峰值粒径、个数平均粒径、重量平均粒径、面积平均粒径、比表面积、拟合精度
准 确 度：体积（重量）不确定范围达到GBW（E120009C）标准物质用于一般仪器鉴定规程的要求
测量速度：单次光学采样20微秒并行,处理时间少于1分钟
测量方式：静态、液态、液态循环
结果输出：打印，各级颗粒体积（重量）与颗粒数的直方图、百分比、累计百分比、D10粒径、D50粒径、D90粒径、峰值粒径、个数平均粒径、重量平均粒径、面积平均粒径、比表面积、拟合精度
型号 分数级 测量范围 特点
JL-9100型 32级 0.1-111.6um
JL-9100型 32级 0.1-111.6um
JL-9000型 32级 0.1-334.7um
JL-9200型 32级 0.1-334.7μm 具有自动制样装置
SKL-06型 32级 0.1-111.6
SKL-07型 36级 0.1-334.7um 米氏散射理论,多量程颗粒测量
