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技术参数
平板式探针扫描器
X-Y扫描：探针扫描( Tip Scan)
范围：>80um
线性：<1%
Z-Scan:
范围：>8um
分辨率：<0.1nm
彩色视频显微镜
放大倍数（19”监测器）：2000
自动放大/聚焦：4
视野：140um＊190um
分辨率：1.5um
自动X-Y台：
范围：25.4 x 25.4 mm
步长：<3um
回转速率：2.5mm/sec
扫描模式：
—接触模式
—侧力模式
—振动模式
—非接触模式
—原料感模式
—力/距离模式
选配模式:
-电学模式(EFM/Kevin Probe) :非抬起模式, 采用独立的锁相放大器探测
-导电模式(SHARK):电流测量范围: fA-mA
-磁力模式
-摩擦力模式
-纳米刻蚀 Dip-Pen Nanolithography
-探针加热模式( SThM, 探针温度可达700摄氏度)
-纳米颗粒粒径分析软件
-恒温恒湿环境控制箱
—脉冲力模式 (Pulse Force Mode): 此为PNI公司开发出来, 针对软物质与黏弹性之测量
主要特点
＊ 闭环式扫描器, 定位, 误差小于1nm
＊ 具有两种扫描器可选用, 种是Light-Level扫描器, 第二种是Crystal Force 扫描器
＊ Crystal Force扫描器为太平洋纳米科技公司的, 具有不须校正激光光路, 快速扫描与操作容易等优点. 对于公用实验室与需要量测大量样品的客户, Crystal Force扫描器是选择
＊ 可配置环境控制箱, 可控制环境的温度, 湿度与通气氛等强大功能
＊ 可选配电学模式, 导电模式, 磁力模式, 摩擦力模式, 纳米刻蚀 Dip-Pen Nanolithography, 探针加热模式(探针温度可达700摄氏度), 加热样品台, 液体池.
＊ Nano-Rp是美国太平洋纳米科技公司专门为分析纳米颗粒粒径分析的原子力显微镜, 包括:
NanoRule+颗粒粒径分析软件, 能够直接分析纳米等级的颗粒并绘制出 二维或三维纳米颗粒的图像
Nanoflat Substrates可以将纳米颗粒沉淀并固定在基底.
| 仪器介绍 |
Nano-R2™是一种多功能的原子力显微镜，它可以显示日常图象的纳米级结构。
因为Nano-R2™本身擁有两种版本的软件来获取图象：X"Pert™(專家級)软件和
EZMode™(容易級)软件，不管是对于新手、偶尔使用的人，还是日常用户，都
可以使他们得到的满足。更进一步的说，Nano-R2™支持*普遍使用的原子
力显微镜模式，包括接触，侧力，材料感觉，非接触和紧密接触模式。Nano-R2™
原子力显微镜的三个主要系统是主机，控制器和Nano-R2™实验台。
Nano-R2™原子力显微镜使静态纳米科技得到进一步加强。Nano-R2™ AFM为纳米技术，
纳米科学和纳米观察应用确立了一个新的标准，以获得纳米级的更高质量的图象和
材料结构。对于两个独立的研究者或是想要共享一台原子力显微镜的研究团队来说，
Nano-R2™是一个理想的选择。
