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NANOMAP-LS 探针式三维形貌仪
点击次数：17发布时间：2017/7/5 15:32:50
更新日期：2019/9/16 16:19:43
所 在 地：中国大陆
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详细内容
测量表面可以覆盖多种材料表面：金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，对于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高，稳定性好。热噪声是同类产品的。
特点：
1. 全自动软件控制
2. 0.1到100 mg接触力
3. 垂直分辨率可达0.1nm 。
4. 每次扫描*少1 0 0点，*多可达1 5 0 ,0 0 0数据点
5. 一体化彩色摄像机在扫描同时可直接观察样品
6. 简单一键操作与用户友好的操作界面
主要技术参数
垂直分辨率: 0.1nm
重复性: 0.54 nm(1Sigema @1um)
垂直范围: 524um（1mm可选）
扫描范围: 150mm x 150mm
