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X-Ray高解析度无损探伤仪

点击次数：197发布时间：2009/11/2 0:00:00

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所在地：深圳

产品型号：View-X

简单介绍：View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。

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View X高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测，并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况，特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。
View X为X光机系列中的一组或称为手动型探伤仪，它包括一个基于Windows系统平台的工作台（View X -1000），并配有图像多样采集功能，能够做到图像同步采集与分析。View X光机完全体现了Scienscope设计中的集使用简便、图像清晰、价格合理的完美理念。

1、可达130千伏，5微米聚焦的X光管能产生125倍的几何放大率，再加上电脑放大可以达到1000倍的放大率。
2、观察范围可从1.5毫米至50毫米。
3、采用激光笔辅助样品定位。
4、X光管的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
5、X光管探测器的Z轴可动控制（FOV和放大率控制）。
6、载物台可作±60°倾斜。

型号		经济型E80/100/130	豪华型L80/100/130
光管	光管类型	封闭管 / Sealed tube
	光管电压	80kV、100KV、130KV
	光管电流	0.15mA
	光管聚焦尺寸	4.5-7um
	冷却方式	风冷 / air cooling
	几何放大倍率	125X
载物台	X轴	400mm	450mm
	Y轴	400mm	400mm
	Z轴	270mm	340mm
	旋转	±60°
增强屏	视场	4/2 inch
	解析度	75 lp/cm
X-Ray外壳	尺寸	1450＊1400＊1750mm	1635＊1240＊2180mm
	重量	约770 kg	约650 kg
电源	供电方式	AC110-230VAC, 50/60Hz
计算机	品牌	3DFAMILY
	操作系统	Windows®XP
	显示器	17”CRT / LCD
	CPU	Intel Pentium IV
工作环境	温度	0-40℃
辐射安全标准		美国FDA安全辐射标准
保修期	一年保修

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