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产品展示

SunScan 冠层分析系统

点击次数:355发布时间:2009/11/2 0:00:00

SunScan 冠层分析系统

更新日期:2012/3/8 16:46:51

所 在 地:美国

产品型号:

简单介绍:吸收阳光照射的量和植物生长情况有直接关系,因此光合辐射(PAR)的数据对于获得理想的照射条件非常重要。
SunScan系统满足对该数据的需求,使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合辐射及叶面积指数。适合测量和分析植物冠层的PAR。

优质供应

详细内容

探测器工作区域:1000×13mm宽,传感器间距15.6mm
探测器光谱响应:400 - 700nm (PAR);
测量范围:0-2500μmol.m-2.s-1
分辨率:0.3μmol. m-2.s-1。
探测器测量时间:120ms;
操作温度:0 - 60℃

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联系人:苏红梅

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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