学结构

反射 : d/8;SCI 镜面光包含 /SCE 镜面光不包含 可切换 ;

d/8 光学结构符合 ISO 和 DIN 标准 ;

d/0 之光学结构也符合 CIE 和 ASTM 标准 穿透 : d/0.

侦测器

硅光电二极管（ 40 对组件）

测量波长范围

360 到 740nm 每间隔 10nm

精确度

反射率从 0 到 200 Resolution: 0.01

光源

脉冲氙弧灯（× 4 ）

测量时间

大约 1.5 秒 .

测量间隔时间

4 秒，当测量 SCI/SCE 时

UV 光调整 / 过滤

实时的数字调节和 400nm&420nm 截断

穿透测量之样品

薄片 , 色板 , 或 液体 装在容器中 厚度不超过 50mm

再现性

光谱反射率 : 标准偏差 ≦ 0.1

色差值 : 标准偏差Δ E＊ab ≦ 0.02

测量条件 : 执行校正后测量校正白板 , 测 30 次每次间隔 10 秒

机台交换性 LAV

平均Δ E＊ab 0.15 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板测量值与标准机台比较 .

温度影响

光谱反射率 : ≦± 0.10/ ℃ 色差值 : Δ E＊ab≦ 0.05/ ℃

通讯接口

RS-232C

电源

AC 120V/230V 50/60Hz

操作温度 / 湿度范围

13 to 33 ℃ ; 低于 80 相对湿度 at 33 ℃ 无冷凝

储存温度 / 湿度范围

0 to 40 ℃ ; 低于 80 相对湿度 at 33  ℃ 无冷凝

体积 W × H × D

244 × 208 × 378mm （ 9-5/8 × 8-3/16 × 14-7/8inch. ）

重量

12kg 26-7/16 lb.

标准配置

校正白板 CM-A103; 目标罩 ψ 4mmCM-A107; 目标罩 ψ 8mmCM-A106 ；目标罩 ψ 25.4mm CM-A105; 零点校正盒 CM-A104; 附件盒 CM-A109; 变压器 AC-A12; RS-232C 通讯线 CM-A52

防尘罩； Unit Driver 软盘