产品展示
优质供应
详细内容
16路输入/输出通道，基于每通道的动态配置
32路输入/输出通道，矢量速率<100MHz
256MB板载矢量内存
支持1.5V，1.8V，2.5V和3.3V LVTTL接口
支持LVDS，M-LVDS，LVDS接口
200MHz矢量速率
作为独立卡或多达七个额外的同步从属板（128个通道以相同的时序设置工作）特征
GX5293支持可选的I/O电平为1.5V，1.8V，2.5V，或3.3V（TTL，LVTTL，CMOS，以及LVCMOS），另外，GX5293支持16路差分通道用于LVDS，M-LVDS，或者LVDM逻辑系列，TTL/LVTTL接口利用可编程电压资源，可以设置输出逻辑电平从1.4V到3.6V。输入信号支持1.5V，1.8V，2.5V或3.3V的可编程门限。推荐的工作输入电压范围为0 V至3.6 V.
GX5293提供256MB的矢量内存，每个通道128Mb。采用开窗方式进行PCI存储器访问，将每个板卡所需的PCI存储空间限制在16MB，从而节省了测试系统的资源。
GX5293提供可编程的TTL/LVTTL输出时钟和频闪，同时支持外部时钟和频闪。可编程的PLL（锁相环）提供可配置的时钟频率和延迟。同时也提供LVDS输出始终。
GX5293的定序器可以在定义的地址或循环中停止或暂停整个存储器，以及在定义的地址范围或定义的存储块上循环。
软件
GX5293随DIOEasy一起提供，它提供强大的图形矢量开发/波形显示工具，以及虚拟仪表板，32位DLL驱动程序库和文档。虚拟面板可用于从显示仪器当前设置和状态的窗口交互式地控制和监视仪器。 此外，各种接口文件可以访问仪器的功能库，用于编程工具和语言，如ATEasy，C / C ++，Microsoft VisualBasic®，Delphi和LabVIEW。
自动测试设备（ATE）
半导体测试
显示器，打印机和磁盘驱动器测试
ASICs测试
A/D和D/A测试
视频采集/播放应用
高速，双向总线测试/仿真
规格
| 逻辑电平 | LVTTL/CMOS/LVCMOS (1.5 V, 1.8 V, 2.5 V, or 3.3 V) , LVDS/LVDM/M-LVDS, | ||
| I/O电平 | LVTTL / CMOS / LVCMOS： 可编程输出电压电平1.4 V（*小值）; 3.6 V（） 输入阈值 1.5 V，1.8 V，2.5 V或3.3 V 推荐工作条件 0V（*小）; 3.6V（） LVDS / LVDM / M-LVDS： 推荐工作条件 电压输出： -1.4V（*小）; 3.8 V（） 电压输入： .05V（*小）; 3.3V（）， | ||
| 通道数量 | 16个I / O，方向和配置可以在每个向量和每个通道的基础上动态配置32个I / O，用于矢量速率<100 MHz | ||
| 每通道内存深度 | 128Mb | ||
| 时钟 | |||
| 内部测试时钟（PLL） | |||
| 频率范围 | 5Hz（*小）;200MHz（） | ||
| 分辨率 | 1Hz或.5%中的较大者 | ||
| 内部B时钟输出（TTL/LVTTL） | |||
| 频率范围 | 300kHz（*小）；200MHz（） | ||
| 分辨率 | 1Hz或.5%中的较大者 | ||
| 内部C时钟输出（LVDS/LVDM/MOLVDS） | |||
| 频率范围 | 300kHz（*小）；200MHz（） | ||
| 分辨率 | 1Hz或.5%中的较大者 | ||
| 外部输入测试时钟 | |||
| 频率 | 0Hz（*小）; 200MHz（） | ||
| PLL | 3MHz（*小）; 200MHz（） | ||
| 脉冲宽度 | 40%（*小）; 60%（） | ||
| 输入电平 | 用户可选择的I / O电平（1.5 V，1.8 V，2.5 V或3.3 V） | ||
| 电源（空闲和初始化） | |||
| +3.3VDC | 200mA（*小）；4A（） | ||
| +5 VDC | 50mA（*小）；2A（） | ||
| +12 VDC | 0.03mA（*小）；1mA（） | ||
| 环境 | |||
| 操作温度 | 0 °C to 50 °C | ||
| 存储温度 | -20 °C to +70 °C | ||
| 大小 | 3U PXI | ||
| 重量 | 200g | ||
*注：规格如有更改，恕不另行通知
订购信息：
| GX5093 | 具有256 MB矢量内存和LVDS电平的200 MHz数字I / O板 |
