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低温储试验（IEC68-2-2)恒温恒湿试验--时恒电子
点击次数：13发布时间：2017/3/23 11:23:31
更新日期：2017/3/23 11:23:31
所 在 地：中国大陆
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相关标签：传感器
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详细内容
恒温恒湿试验（IEC60068-2-3/UL1434)
a.试验条件及方法：
将试验样品置于40±2℃，90~95%RH的试验箱中1000小时±24小时。
目视检查：零功率电阻，绝缘电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
绝缘电阻：R≧100MΩ(500VDC)
冷热冲热击试验（箱体式) IEC60068-2-14/UL1434
a.试验条件及方法：
将试验样品置于- 40±3℃低温箱中30min取出于室温5min，再投入85 ±2℃高温箱中30min后取出于室温5min，此为1个周期共计进行1000个周期.
目视检查：零功率电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
低温储试验（IEC68-2-2)
a.试验条件及方法：
将试验样品置于-40±5℃的低温试验箱中持续
1000小时±24小时
目视检查：零功率电阻
b.性能要求
恢复后无肉眼可见的损伤
△R25/R25≦±3%
△B/B ≦±3%
时恒电子（http://www.shiheng.com.cn）：热敏电阻、NTC温度传感器
