高级多功能超声波测厚仪38DL PLUS
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详细内容
多功能超声波测厚仪38DL PLUS
主要特性
• 可与双晶和单晶探头兼容。
• 宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
• 穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
• 内部氧化层/沉积物软件选项。
• 对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。
• 使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量。
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
• 厚度、声速和渡越时间测量。
• 差分模式和缩减率模式。
• 时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。
• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
• 设计符合EN15317标准。
这款测厚仪与其他测厚仪有何不同?
GageView™
• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据。
• 创建数据集和测量总结。
• 编辑所存数据。
• 显示数据集和测量总结文件,文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值。
• 从测厚仪上下载厚度测量总结,或上传厚度测量总结至测厚仪。
• 将测量总结导出到电子表格及其他程序。
• 收集捕获的屏幕。
• 打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告。
• 升级操作软件。
• 下载和上传单晶和双晶探头设置文件。
• B扫描回顾
标准配置
标准双晶探头套装盒
• 充电器/AC适配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC)
• 内置数据记录器
• GageView接口程序
• 试块和耦合剂
• USB线缆
• 橡胶保护套,带有支架和颈挂带
• 用户手册
• 两年有限担保
测量功能:穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、*小值/值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/*小值模式
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