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S-WCD-QD-2000-L 量子点短波红外相机型光束质量分析仪 350-2000nm
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详细内容
量子点短波红外相机型光束质量分析仪,超高速USB 3.0,400-2000nm,采用量子点传感器,对1550nm或2000nm处进行优化,多种有效面积可供选择,高可至1920 x 1080,15×15 μm像素点,14位A/D转换,是连续和脉冲短波红外激光光束分析的理想工具。
仪器特点
采用量子点传感器,对1550nm或2000nm处进行优化
覆盖波长范围400nm-1700nm 或 350nm-2000nm
多种有效面积可供选择,高至1920 x 1080
像元尺寸达15 µm
14位ADC
全局快门;支持脉冲和连续光束
动态范围 >2100:1
内置固件NUC
可在多台相机上进行并行捕获
M² 测量
GigE 或 USB 3.0,带有3米长可螺钉锁紧的导线
支持GigE Vision 或 USB3 Vision
应用域
1550nm / 2000nm 激光的光束分析
1550nm / 2000nm激光和激光系统的现场测试
光学组装和仪器校准
光束漂移和记录
使用 M2DU 平台测量 M²
技术参数
波长范围 | S-WCD-QD-1550系列: 400-1700 nm |
S-WCD-QD-2000系列: 350-2000 nm | |
像素点‚ H x V | S-WCD-QD-1550/2000: 640x512 S-WCD-QD-1550/2000-L: 1280x1024 S-WCD-QD-1550/2000-XL: 1920x1080 |
传感器 | CMOS ROIC 上的胶体量子点 (CQD) |
成像区域 | S-WCD-QD-1550/2000: 9.5x7.68 mm S-WCD-QD-1550/2000-L: 19.2x15.36 mm S-WCD-QD-1550/2000-XL: 28.8x16.2 mm |
像元尺寸 | 15 x 15 µm |
小光斑 (10像素) | ~150 µm |
快门类型 | 全局 |
**帧率* | S-WCD-QD-1550/2000: 25 fps S-WCD-QD-1550/2000-L: 25 fps S-WCD-QD-1550/2000-XL: <25 fps |
信噪比 | ≥2100:1 |
光学/电子dB | 33/66 |
ADC | 14-bit |
可测量源 | CW光束‚ 脉冲源带触发同步 |
可测量的光斑功率 | 详见图表 |
手动光束衰减器 | 包含ND-1, ND-2, 和 ND-4 C接口衰减器 |
可显示的光斑轮廓 | 2D & 3D点阵 |
以10‚ 16, 256 或**色彩或灰度显示 | |
10 色和 16 色的轮廓显示 | |
测量和显示的轮廓参数 | 原始图形和经过平滑后的图形 |
三角运算平均滤波器高达 10% FWHM | |
光束直径 | 两个用户设置切片别的直径 |
高斯 & ISO 11146 二次矩光束直径 | |
高于用户定义的切片别的等效直径 | |
等效狭缝和刀刃直径 | |
光束拟合 | 高斯 & Top Hat 轮廓拟合 & % 拟合 |
等效狭缝轮廓 | |
光束椭圆度 | 长轴,短轴和平均值. 轴的自动定向. |
质心位置 | 相对与绝对 |
强度加权平均后的质心和几何中心 | |
光束漂移的显示和统计 | |
测量精度 (不限于像元的尺寸) | 用于内插直径的5µm 处理分辨率 |
绝对精度是取决于光束轮廓 ~ 通常可以达到 10 µm 精度. | |
质心精度也取决于光束 (可以精确至 ±10 µm,因为这是从质心切面上所有像元经算术计算而来的). | |
处理选项 | 图像与轮廓平均,1‚ 5‚ 10‚ 20‚ 连续. |
背景光捕获和扣除 | |
用户设置用于捕获的矩形捕获块 | |
用户设置的,或带有光束追踪的自动椭圆包含区域来进行处理 | |
*.ojf 文件保存了所有WinCamD用于特定测量所进行的自定义设置 | |
通过/失败显示 | 通过/失败显示,可通过屏幕上选择不同的颜色。 质量保证和生产的理想选择。 |
日志数据和统计 | 小,**,平均,标准差,4096个样本数据 |
相对功率测量 | 基于用户初始输入的滚动直方图。 单位为 mW、µJ、dBm、% 或用户选择(相对于参考测量输入) |
流畅度 | 用户自定义 |
认证 | RoHS‚ WEEE‚ CE |
多路相机 | 高可达4台相机,并行捕获. |
1 至 8 台相机,串行捕获 | |
相机尺寸‚ 宽 x 高 x 深 | 61 x 61 x 99 mm |
光学深度-从外壳或衰减器至传感器的距离 | 17.5 mm |
固定 | 8-32螺纹, 8 mm深 |
重量 | 407 g |
* Capture block size dependent
典型测试数据