产品展示
优质供应
详细内容
产品应用:
DC(直流)、RF(射频)、mmW(毫米波)测试
纳米级电子器件测试,微机电测试
高功率测试
产品特点:
1. 超高性价比的全功能型探针台。
2. 操作简易、操作效率更高——同轴操作机构(载物台和显微镜X-Y移动基座)。
3. 完整的系统配件,客户可根据需求将S系列配置为I-V/C-V测试系统、RF/mmW测试系统、高功率测试系统、光电器件测试系统等等。
光学系统 |
|
类型 | 金相显微镜、体视或单筒显微镜可选 |
光学放大倍数* | 15X-2000X |
* 根据所选物镜或显微镜放大倍数不同会有不同的光学放大倍数,详细请咨询客服人员。
| |
其它信息 |
|
台体尺寸 | 724mm*606mm*610mm(W*D*H) |
重量 | 120kg |
加热载物台(可选项) |
|
尺寸 | 6"(152.4mm),可选更大尺寸,如8"或12" |
温度范围 | 室温~300℃ |
温控精度* | 0.5℃(典型值) |
温度均匀性 | 0.5℃@6"载物台 |
加热时间 | <6min(室温~300℃) |
标准配置的加热台为自然冷却,可选风冷或水冷套件。 |
|
RF载物台(可选项) |
|
尺寸 | 6"(152.4mm),可选更大尺寸,如8"或12" |
校准片载物台 | 2个(独立真空控制) |
尺寸 | 可放置CS-5等尺寸的校准片 |
校准片载物台角度调节范围 | 7° |
材质 | 不锈钢 |
平整度 | |
真空驱动方式 | 真空泵 |
其它扩展配件(可选项) |
|
探针卡夹具 | 可根据探针卡尺寸定制,应用于多点或自动测试 |
|
|
激光器 | 1064nm,532nm,355nm,三个波段自由配置,对芯片线路进行切割修改。 |
|
|
半自动控制系统 | 实现晶圆小批量半自动测试需求 |
设备环境要求 |
|
电源 | 220V±10% |
真空 | -8bar |
压缩空气 | 0.6MPa |