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湖南长沙LW400LMDT正置(明暗场)芯片检查显微镜

点击次数:126发布时间:2010/12/21 15:49:53

湖南长沙LW400LMDT正置(明暗场)芯片检查显微镜

更新日期:2012/1/16 15:30:31

所 在 地:

产品型号:LW400LMDT

简单介绍:本仪器广泛的应用于透明,半透明或不透明物质,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。

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详细内容

  本仪器广泛的应用于透明,半透明或不透明物质,比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹,都能有很好的成像效果。

二、技术指标
    

  • 镜筒:T三目,30°倾斜
  • 高眼点目镜:WF10X/Φ25mm
  • 无限远长工作距离物镜:4X、10X、20X、40X
  • 转换器:五孔
  • 工作台尺寸:310mm×350mm 
  • 调焦:粗微动同轴,范围36mm,微动0.002mm
  • 光源:垂直照明,卤素灯12V100W,亮度可调
  • DIC装置:偏光装置、明暗场转换                         
     

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联系人:马英

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【已认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:生产商
  • 注册资金:人民币万

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