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上海北京LW200-4JB正置金相显微镜
点击次数：313发布时间：2010/12/21 16:01:38
更新日期：2019/12/19 11:02:56
所 在 地：中国大陆
产品型号：LW200-4JB
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详细内容
本仪器除了对20-30mm高度的金属试样作分析鉴定外，由于符合人的日常习惯，因此更广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。大于3 微米小于20微米的观察目标，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。
二、技术指标
- 镜筒：B双目，30度倾斜，360度旋转，辅助倍数1.25X
- 高眼点目镜：PLAN10Xф20mm
- 长工作距离平场物镜：PL4X，PL10X，PLL40X（S），PL100X（S）（oil）
- 转换器：四孔
- 总放大倍数：50X-1250X
- 载物台：尺寸160mmX140mm，移动范围75mmX50mm
- 聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25，孔径光阑，滤色片座
- 调焦：粗微动同轴，升降范围20mm ，微动格值0.002mm，带锁紧和限位装置
- 光源：透反射柯勒照明，透射照明卤素灯12V20W，反射照明卤素灯12V50W，亮度可调
- 正交偏光装置
