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碳硅分析仪测量原理通过微处理器进行温度曲线的采集，通过铁水结晶法来测量计算碳硅成份及铁水品质。
主要参数:
测温范围：1250℃～1350℃
测量范围：碳当量3.2～4.8±0.1%
碳含量2.8～4.2±0.05%
硅含量0.9～3.0±0.1%
主要特点：
通过改进的求值方法进行工作，能自动控制重要的冶金参数，弥补“光谱"难以测准非金属元素（C、Si）之不足，以及常规分析仪器不能满足炉前快速分析的时间要求，满足铸造生产的质量控制要求。
★应用功能：对白口、灰口铸铁进行C%、Si%、CEL、SC、△T、△TM等测量，同时还附加对非合金铸铁的抗拉强度RM、硬度HB、品质系数Z/H、共晶团数MEG以及石墨化因子K等参数的计算
★显示数字高度：50mm
★温度补偿范围：0-15℃
★配套样杯类型：K型
★测量精度：±1℃
★显示温度单位：华氏温度或摄氏温度可设置
★测量时间：240秒
★测量状态显示：仪表上“准备”绿灯、“测量”黄灯、“完成”红灯循环显示
★数据输出：串行信号RS232-TTY电流环信号输出输出格式：1开始位、7数据位、奇偶校验、2停止位
★电源要求：98-242VAC，50-60Hz，30VA左右
★仪表防护标准：IP65标准防护
★EMC标准：执行EN50081-2及EN50082-2抗干扰性标准
