爱思达TDR-ZK2010阻抗分析仪是专用于PCB高频线路板特性阻抗测试使用。

阻抗分析仪是采用时域反射技术设计的特性阻抗测试系统，能够批量化、自动化、快速、测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、、标准和经济的解决方案。

阻抗分析仪主要的功能概述：
1） 批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试
2） Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果
3） 提供单端和差分阻抗测试
4） 支持2通道、4通道及8通道测试
5） 快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能
6） 集成测试文件编辑器，快速设置测试参数
7） 自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上
8） 显示测试波形、统计数据分析及测试结果
9） 打印测试报表、波形及测试结果
10） 符合IPC-TM-650和IPC2141标准

阻抗分析仪技术参数
    控制阻抗测试范围 20-150Ω
    测量精度 50Ω±1%
    测量长度 2m，*小达到0.09m
    垂直显示分辨率 0.05Ω
    测试方法 时域反射法（TDR）