镀层测厚仪X-Strata920：是牛津仪器*新发布的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品；在CMI900基础上，改进了系统安全部件、系统软件进行了更新、测量结果进行多样化的输出；是X射线荧光（XRF）镀层测厚仪；具有非破坏、非接触、无损测量；一键定焦，有效避免人为操作误差；快速简洁，仅需10秒即可得出测量结果。适用于大多数行业，是质量控制、节约成本的*佳检测工具。拥有着多种称谓：金镍测厚仪、LED测厚仪、金银测厚仪、X射线测厚仪、X-Ray测厚仪、台式测厚仪、镀层测试仪、支架测厚仪……

应用行业：

PCB、FPC、LED、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、螺栓和弹簧等五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、功能性电镀件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。

工作原理：

对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线，通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，镀层测厚仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

仪器特点：

可测元素：钛Ti22－－-铀U92间各元素；

可测镀层：5层镀层（含基材层），15种元素共存校正；

测量时间约10秒，快速得出测量结果；

测量结果精确到微英寸；

测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；

提供贵重金属分析和金纯度检查（即Au karat评价）；

提供NIST认证的标准片；

享有全球的服务与支持。

测厚范围：

取决于具体的应用。

测量精度：

膜厚≤20µin（0.5um）时，测量误差值为：层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin

膜厚＞20µin（0.5um）时，测量误差值为：层±5%，第二层±10%，第二层±15%

我司是牛津仪器总代理商，从事与仪器相关服务已经十多年，拥有技术过硬的技术工程师以及优秀的销售团队，可为你解决涵盖CMI900仪器、CMI700等牛津仪器相关问题，也可以提供*详细的CMI900、CMI700相关技术资料。