金镍测厚仪又称无损镀层测厚仪，牛津生产的金镍测厚仪x-stara920主要应用于电镀 表面处理等行业 单层 多层 金属镀层厚度的测量 *多可一次性测量五层镀层厚度 多镀层一次测量出结果，避免直接接触或破坏被测物。快速 无损 准确 广泛使用于 五金 PCB 连接器 LED 卫浴 通讯 电池触点 电脑、仪表、汽车、家电以及数控机床等高科技电子领域行业等电镀领域。
金镍测厚仪x-stara920主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。利用x射线原理，对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线，通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，镀层测厚仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

金镍测厚仪x-stara920特点：
可测元素：钛Ti22－－-铀U92间各元素；
可测镀层：5层镀层（含基材层），15种元素共存校正；
测量时间约10秒，快速得出测量结果；
测量结果精确到微英寸；
测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；
提供贵重金属分析和金纯度检查（即Au karat评价）；
提供NIST认证的标准片；
享有全球的服务与支持。

金镍测厚仪x-stara920测厚范围：
取决于具体的应用。
 
金镍测厚仪x-stara920测量精度：
膜厚≤20µin（0.5um）时，测量误差值为：层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin
膜厚＞20µin（0.5um）时，测量误差值为：层±5%，第二层±10%，第二层±15%

牛津生产金镍测厚仪x-stara920可检测多层镀层元素的厚度，同时也可以分析镀层金属元素的成分。