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薄膜/纸张厚度表

XF802-P30薄膜/纸张厚度表

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价格：￥电议

型号：XF802-P30 原产地：中国大陆发布时间：2022/9/8 15:01:17更新时间：2023/11/24 10:01:40

产品摘要：XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5

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详细内容

XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。

执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5

技术指标：

仪器型号	XF802-P30
测量范围	0-1000 μm
显示	1 μm
仪器尺寸	1259525 mm
重量	270 g
装箱单	SP300主机, 说明书和合格证

XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。
执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5

XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。
执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5 XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。

执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5 XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。
执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5 XF802-P30厚度表用来测量薄膜，纸张，塑料等薄片材料的厚度。该仪器可以和Testex拓片纸配合使用，测量表面处理后的表面粗糙度。
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执行标准: NACE RP0287, ASTM D 4417-C, ISO 8503-5

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