产品特点：

    天星BX610-D400阳极氧化膜测厚仪，适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝材料、铝工件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，以及其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

·天星BX610-D400阳极氧化膜测厚仪用于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查，可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。

·仪器符合标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

特点：

  量程宽:达到0～500μm。

  精度高:测量精度达到2%。

  分辨率高:分辨率达到0.1μm。

  校正简便:只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。基体导电率影响小:基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量 误差不大于1～2μm。

  可靠性提高:采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性 提高。

  稳定性提高:采用的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器 校正一次可在生产现场长期使用。

  探头线寿命长:采用德国进口的，在德国测厚仪上使用的探头线，探头线寿命可大大延长。

  探头芯寿命长:采用高度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。

技术参数：

·测量范围:0～500μm。

·测量精度:0～50μm：±1μm；50～500μm：±2%。

·分辨率:0～50μm：0.1μm；50～500μm：1μm；0～500μm：1μm（可选）。

·使用温度:5～45℃。

·外形尺寸:150*80*30mm。

标准配置：

·主机………………1台。

·探头………………1支。

·基体………………1块（6063合金）。

·校正箔片…………1片（约50μm，附检测报告）。

·使用说明书………1份。

·合格证……………1份。

·保修单……………1份。