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公司动态
参加2010中国科学仪器发展年会
点击次数：858 发布时间：2012/2/9
本文由精微高博（上海）比表面积测定仪科技提供
2010年4月9日，中国科学仪器行业目前别的高峰论坛——“中国科学仪器发展年会”在京仪大酒店隆重举行。北京精微高博科技公司应邀参加了此次盛会。
2010年4月9日，中国科学仪器行业目前别的高峰论坛——“中国科学仪器发展年会”在京仪大酒店隆重举行。北京精微高博科技公司应邀参加了此次盛会。
首先，科技部孙处长作了“十二五期间中国科学仪器发展的思考”的大会报告，指出了影响科学仪器发展存在的问题，并现场解读了“十二五”规划的实施将对中国科学仪器行业带来的影响。
其次，知名仪器企业负责人高峰对话，盘点2009年、展望2010年热点应用市场，并就各自行业如何快速发展提出了许多真知灼见，尤其对跨国公司日益“本土化”的现实问题，提出了中国本土的科学仪器行业应采取的积极应对策略。
*后，光谱、色谱、质谱三大技术发展论坛针对光谱、质谱、色谱三个领域的热点技术问题展开讨论，深入探讨了各类仪器技术的发展趋势。相对光谱、色谱、质谱应用领域来说，比表面及孔径分析仪全套系列产品，属物性测试仪器系列，目前虽然处于被广泛应用的前期，但本公司的高端精密型分析仪JW-BK2324比表面及孔径分析仪也很顺利入围了“2009年度优秀新产品”。
中国科学仪器发展年会*后取得圆满成功，促进了中国科学仪器行业“政、产、学、研、用、资”等各方的有效交流，全面总结了中国科学仪器的*新进展，向各位参会代表呈现了*新的有关政策、*前沿的行业市场信息及*新的技术发展趋势。
