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公司动态
精微高博参加2010年国际展
点击次数：1095 发布时间：2012/2/9
本文由精微高博（上海）比表面积仪科技提供
北京精微高博科学技术有限公司是中国专业生产、研发及销售比表面及孔径分析仪的厂家，其产品凭借高科技、高质量与高标准，叩开了市场的大门。2010年2月17日～2月19日，参加了纳米技术展览会（International Nanotechnology Exhibition ａnd Conference）；2010年3月3日～3月5日，在日本参加了充电电池博览会（International Rechargeable Battery Expo）。
北京精微高博科学技术有限公司是中国专业生产、研发及销售比表面及孔径分析仪的厂家，其产品凭借高科技、高质量与高标准，叩开了市场的大门。2010年2月17日～2月19日，参加了纳米技术展览会（International Nanotechnology Exhibition ａnd Conference）；2010年3月3日～3月5日，在日本参加了充电电池博览会（International Rechargeable Battery Expo）。
作为国产仪器厂商，精微高博公司展示了自主研发的高端分析型产品（JW-2324w和JW-2224）。JW系列比表面及孔径分析仪已达水平，测试范围广，重复性好，精确度高。
JW-2324w比表面及孔隙率分析仪在以下三个方面都有突破性的改进：1. 微孔分析方面：P/Po在0—0.12之间的等温吸附曲线，不小于30个压力点；孔径范围在0.35—2nm之间的孔径累积分布、微分分布及*可几孔径；有特殊的双级真空系统；2. 结构与控制方面：压力点可任意设置，压力点数量无上限限制；平衡时间可自动判断与控制；气压升或降的速度控制精细、精确、平稳、可靠；液氮面高度可自动调节与补偿；具有Po值的测定与调节技术；3. 分析软件方面：包括BET, Langmuir ,BJH , D&R, T-Plote, MP, HK, SF等。
JW324w和JW-2224型比表面及孔隙率分析仪是本类展品中的一大亮点，吸引了来自世界各地的客户前来展台参观咨询，展出质量很高，赢得了业界人士高度赞许。
