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公司动态
高性能比表面仪亮相2013春季高教展
点击次数：1069 发布时间：2013/4/28
2013年4月25日，全国春季高教仪器设备展示会在江西南昌展览中心拉开帷幕。北京精微高博科学技术有限公司携高性能比表面及孔径分析仪（型号：JW-BK132F）亮相展会，引来众多老师围观。
精微高博展台D194
精微高博此次带来的比表面仪产品，主要是面向高等院校的高效研究型的物性分析仪，特别适合于新材料及新产品的研发，测试精度高，重复精度≦±1%，微孔*可及孔径重复偏差≦0.01nm；仪器全自动智能化，具有近十种物理模型及完善的分析软件，操作简单，有利于学生更好的了解与掌握比表面积及孔径分布的相关知识及其应用，引发学生学习兴趣。
精微高博高度重视产品技术的性与质量的稳定性，把不断提高产品质量、保持技术性作为不懈追求的目标。在与接轨的静态仪器方面，精微高博技术团队在钟家湘教授的带领下，深入进行基础理论研究、测试关键部件的优化设计、自由空间的准确测定、测试系统温度的全程监测与修正，使仪器的测试精度始终在国内遥遥；集国内水平的研究成果，独家开发出非定域密度函数（NLDFT）孔径分析软件，赶上了水平，填补了国内空白。
高性能比表面及孔径分析仪
型号：JW-BK132F
高性能比表面及孔径分析仪
型号：JW-BK132F
