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JW-BK2322型全自动静态容量法比表面及孔径分析仪
点击次数：1690发布时间：2010/7/27 17:15:36
更新日期：2022/3/9 8:45:36
所 在 地：中国大陆
产品型号：JW-BK2322
优质供应
详细内容
JW-BK2322型全自动静态容量法比表面及孔径分析仪
* 技术参数
*
工作气体： 高纯氮气（吸附质）
高纯氦气（载气）
气体流量： ≤100ml/min
流量控制： 高精密稳压稳流系统
流量测定： 高精密气体流量传感器
流量显示： 数字显示系统
氮气分压： 0.05~0.35 （自动计算）
工作压力： 常压
测定范围： 比表面 ≥0.1M2/g
（无规定上限）
样品数量： BET比表面被测样品4个
直接对比法被测样品3个
标定方法： 定量体积氮气 （BET法）
固体标样 （直接对比法）
测量时间： （每个样品）
≤20分钟 （BET法）
≤10分钟 （直接对比法）
测量精度： ≤±3％
* 主要特点
*
JW-BK2322型比表面及孔径分析仪原理及方法
氮吸附法理论
单层与多层吸附理论
BET法比表面积测定（多点法、单点法）
直接对比法比表面积测定
动态气相色谱法
JW-BK2324型比表面及孔径分析仪的功能：
◎ 表面积测定
单点和多点BET比表面、Langmuir比表面、外表面积、微孔总内表面积、吸/脱附总孔内表面积
◎ 孔体积测定
单点总孔体积、BJH吸/脱附总孔体积、微孔总孔体积
◎ 孔径测定
吸附平均孔径、BJH吸/脱附平均孔径、*可几孔径
◎ 孔径分布测定
介孔吸/脱附孔径微分分布（dV/dr—D 、dV/dlogD—D）
介孔吸/脱附孔径累计分布、微孔和超微孔孔径分布
◎ 真密度测定
* 仪器介绍
*
比表面积是单位质量物质的总表面积（㎡／g），是超细粉体材料体别是纳米材料*重要的物性。测定比表面的方法很多，其中氮吸附法是*常用、*的方法，已列入标准和我国国家标准。
氮吸附法假定粉体的表面吸附了一层氮分子，已经知道每个氮分子所占的横截面积为0.162nm2，则粉体的比表面积（Sg）可由下式求出：Sg = 4.36Vm / W ,式中Vm为重量为W的粉体材料表面氮的单层吸附量。氮吸附仪的主要功能是能测出氮气吸附量。按照方法不同，氮吸附仪分为静态容量法、静态重量法和动态法 （又称连续流动色谱法）三种。
动态法以氮气为吸附质，氦气为载气，两种气体按指定比例混合，达到一定的氮气分压，让这种气体流经装有粉末样品的样品管，当样品管置于液氮温度时，氮气在样品表面产生物理吸附，而氦气不被吸附，这时气流中氮气的浓度减少，
在浓度传感器上（热导检测器）产生电信号，形成一个所谓的氮气吸附峰，当样品管回到室温时，样品表面吸附的氮气会全部脱附出来，并形成一个脱附峰。吸（脱）附峰面积的大小正比于氮气的吸附量，也就是正比于样品的比表面积。
直接对比法是选择已知比表面积（Sg 0）的标准样品，与被测样品并联到相同的气路中，只要先后测出标样和被测样的脱附峰面积（Ao、Ax）,被测样品的比表面可由下式求得：Sg＝Sg 0×AxWo／AoWx 。其中Wo和Wx分别是标样和被测样的重量，直接对比法操作简单，测试速度快，适合于与标准样品吸附能力相近材料的比表面的快速测定，特别适用于生产的在 线检测。“直接对比法”测定比表面积有一个局限性，即被测样品与标准样品的吸附特性必须一致，否则测定的精确性会受到影响。
BET比表面的测定方法则没有上述的局限性。因为用氮吸附法测定比表面时，必须知道粉体表面对氮气的单层吸附量Vm ,而实际的吸附量V并非是单层吸附，即所谓多层吸附理论，通过对气体吸附过程的热力学与动力学分析，发现了实际的吸附量V与单层吸附量Vm之间的关系，这 就是的BET方程，BET方程适用于（P/Po）在0.05-0.35范围中，因此，在０.05-0.35 的范围中选择4-5个不同的（P/Po），测出每一个氮分压下的氮气吸附量V , 并用P/V（Po-P） 对 （P/Po）作图，由图中直线的斜率和截距求出Vm，再由下式求出比表面 S = 4.36×Vm ／W 。本机就是用BET法测定比表面的仪器。
BET比表面测定在绝大多数条件下，图中直线的截距都很小，因此该直线可近似看成是通过坐标原点的直线，这时只要在0.05-0.35范围内选择一个 （P/Po）,做一次试验,求得一个吸附量V,在P/V（Po-P）-（P/Po）图上将该点直接与原点相连,得到的直线的斜率的倒数即为Vm,由此求出 比表面. 单点法测出的比表面误差在5%左右，也是一种较理想的快速测量方法。
