hommel waveline 20粗糙度测量仪

面向生产现场的移动式粗糙度、波纹度及轮廓测量仪

您可以使用粗糙度测量仪来测量工件的表面纹理。 提供各种测量系统-从用于移动应用的紧凑型便携式仪器和用于复杂测量任务的固定系统，再到客户特定的测量站。

我们的粗糙度测量仪非常准确和可靠。 它们是日常生产中的理想选择，并且操作简单，可节省您的时间，成本和资源。 我们多年的经验和广泛的专业知识意味着我们对客户的不同要求非常熟悉。 我们很乐意根据您的工件测量任务量身定制粗糙度测量系统。

紧凑轻便
•通过彩色触摸屏实现交互式操作
•测头自动定位在工件表面上，所以调整的耗时少
•用于测量标准所有常见粗糙度、波纹度和轮廓参数的自由探测系统
•通过内置的粗糙度标准件对测量仪进行即时检测

•易更换的基准面测头
•用于即时打印测量结果的一体化打印机
•共有7个测量程序，另加1个用于仪器检测的测量程序

具有自动探测系统的驱动箱
•用于单手操作的一体化起动键
•高精度线性导轨
•测量速度可变
•软件支持的基准面校正
•能在所有位置测量（包括仰测）
•适合于所有基准面测头的产品系列

测头电动下降
•针尖自动定位在工件表面并调整所需量程

•移动使用时，测量结束后针尖自动抬起，从而可预防无意损伤

移动式基准面测量
•移动应用时精密测量粗糙度、波纹度和轮廓
•确定未经过滤的P参数和W参数
•适用于密封面测量

通过触摸屏实现上下文操作
•具有4个基本功能的功能键条
•多种公差评价方法
•用户数据的输入快捷舒适
•概览性描述结果
•结果视图：参数、轮廓描述、互动式阿尔伯特曲线描述、各种各样的统计功能

一体式热敏打印机
•立即记录测量结果
•简易装纸功能
•打印带公差评价、轮廓、阿尔伯特曲线、附加输入以及统计的测量结果

测头TKl 300l 标准测头，用于测量平面、轴和直径4 mm以上内孔的R，W和P轮廓参数。 量程±300 µm *大水平探测深度30 mm 配2 µm/90°针尖 商品号1000 4132 配5 µm/90°针尖 商品号243 588	测头TKlK 100/5 用于测量直径1 mm以上的小孔。 量程±100 µm *大水平探测深度5 mm 配2 µm/90°针尖 商品号233 280 配5 µm/90°针尖 商品号M0 435 035
测头TKlQ 100/17 配有针对横向测量专门设计的支承，用于测量深槽、凹槽或开挡。 量程±100 µm *大水平探测深度17 mm 配2 µm/90°针尖 商品号231 207 配5 µm/90°针尖 商品号1004 4932	测头TKlT 100/17 用于测量深槽。 量程±100 µm 垂直/水平探测深度13/17 mm 配2 µm/90°针尖 商品号552 726 配5 µm/90°针尖 商品号224 835

hommel waveline 20粗糙度测量仪