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电涡流测厚仪的测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

使用以上原理的磁性测厚仪和涡流测厚仪为我国内广泛应用的测厚仪器，另外超声波原理的测厚仪因其造价及测量精度不高，国内尚未使用，国外也是个别厂家使用。放射性测厚仪器造价高，仅适宜特殊应用场合。至于有损测厚法测试方法相对落后，且损坏被检产品覆层，

应用也不乐观。

测厚仪，顾名思义，就是用来测量某种物体厚度的仪器，英文名称为thickness gauge，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连接或抽样测量产品的厚度。测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效了测试的规范性和准确性。测厚仪厂家介绍业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

测厚仪原理——涂层测厚仪

涂层测厚仪：主要采用的是电磁感应法来测量涂层的厚度。涂层测厚仪会在部件表面的处产生一个闭合的磁回路，伴随着与铁磁性材料之间距离的变化，该磁回路将会发生不同程度的改变，因此会引起磁阻及线圈电感的变化。

测厚仪原理——激光测厚仪

激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切测量和观察机械造中零件加工表面的微观几何形状开测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。

测厚仪原理——X射线测厚仪

X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是X射线穿透被测材料是，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

测厚仪原理——电解测厚仪

电解测厚仪：电解测厚仪是利用法拉第原理设计，其过程类似于电镀，但电化学反应的方向相反，是电解除镀。

测厚仪原理——超声波测厚仪

超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发射而返回，通过测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。

6580801300CPU模组

00155400上定量膜

00305301发射头窗口膜

6542620082二管绿灯泡

6542620083二管红灯泡

05355311置放大板

05406700灯丝电流板

05410000高压电源板

05413200水份通道放大板

05341600水份音叉驱动板

05404600接收电源板

08631800水分硫化铅检测板

07659701变速箱轴环开口环

6541600065LVDT位置反馈传感器

22000052厚度电磁阀

00462200下定量膜

08733705PMP柜交流变频器

051000398扫描架操作面板

08713700厚度上

6580800719扫描架编码器

35000005扫描架小车传动皮带

6581500030信息采集板

6581500030-R04信号板

05440501PMP柜DAQ端子板

05428901扫描架控制端子板

6580500046DAQ板

6580500097FC控制板

6580801390CPU板

36000001定量传感器电离室

05340900单侧检测部件

05347400板子

6580800556板子

6542800036板子