FANUC 发那科 A20B-1001-0470 新闻资讯
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3 试验设计
4 CAF失效数据
4.1 试验板孔粗+灯芯的测量
对试验板取切片测得所有模块的孔粗+灯芯在30μm左右，那么CAF产生所需克服的电气间距应为设计孔壁间距减去0.06mm。
4.2 CAF失效观察
图4为产生CAF失效的孔壁间距为0.2mm的模块的切片截面图，可以看到，在两个绝缘孔之间产生了明显的CAF现象：
图4 产生CAF失效的切片截面图（与玻纤平行）
4.3 不同外加偏压下的平均失效时间数据
对设计孔壁间距为0.2-0.35mm之间的材料A制作的试验板分别在500V、300V、100V、10V、3.3V下测得其平均失效时间，如图5所示：
NP1PS-74R
NC1Y32T05P1
NV1P-042 NV1L-RS2 DI16 DO16 RS2 X1604
FTU080H-A10
FTL010H-A10
FTK 321A-C10
NJ-X16-4
FSB 128H
FSB126H
LOG-B B1281TO
MX100CP02F JA
NP1L-ET1
NC1L-RS2
FTK260A-C10
伺服器 TYPE :DES400C FRK 750C
伺服器 TYPE :FRK 750C
140-IA-IR/M
NW0P40R-31 NWOP20R-31
NB2 U36R-11
NB1P40X-AC-Z005
NB1U40X-01
伺服器 RYE3.0D 3.7D 75D 1.1KW
FSB 088H
FTB32T-Z041
FTB32R3
FTK113A-C10
CPU FPU120S-A10
FTF56X-N
NP1L-RS2
NP1F-HC2 NP1F-HP2 NP1PM-48R
NP1X1606-W
NP1Y16R-08
NB系列PLC专用继电器RJ-0A240-002
NC1S-1
NSD VS-5B
NB1-P40X-AC
NJ-CPU-B32
FTU 221B
NC1F-HC1
NP1BS-06
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