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动机：组合锁相环测量示例

图2所示为针对组合锁相环的测量示例。这些数据是通过组合来自多个ADRV9009收发器的发射输出获得的。图中所示为单个IC、两个组合IC和四个组合IC的情况。对于这个数据集，在IC组合之后，可以看到明显的10logN改进。为了达到这个结果，需要采用一个低噪声晶体振荡器参考源。下一节建模的动机是推导出一种方法，以计算在具有许多分布式收发器的大型阵列中，更广泛地说是在具有分布式锁相环的任何架构中，这种测量结果会如何变化。

图2.两个组合锁相环的相位噪声测量

锁相环模型

锁相环中的噪声建模已有充分的文档记录。1-5图3所示为输出相位噪声图。在这种类型的图中，设计师可以快速评估环路中每个组件的噪声贡献，而这些贡献因素累计起来即可决定整体的噪声性能。模型参数设置为代表图2所示的数据，源振荡器用于估算将大量IC组合在一起时的相位噪声。

要检验分布式锁相环的效果，首先要从PLL模型导出参考贡献和其余PLL组件的贡献。

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