DCF503B-0050 ABB板卡 新闻资讯
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品牌名称：$brandModel.Title(进口品牌)型号： 原产地：中国大陆 发布时间：2019/7/12 9:45:49更新时间：2024/7/18 14:42:33
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SEM主要是通过聚焦高能电子束轰击扫描样品表面，被激发的区域将产生各种信号，如二次电子、背散射电子和特征X射线等，不同的信号被不同的探头接收从而得到试样的各类信息，其中二次电子主要反映形貌特征，背散射电子主要反映元素特征，而特征X射线信号则被能谱仪接收，通过计算机内部的计算，实现微区成份分析。为了得到稳定的图像，要求样品表面要导电，不导电样品则采用喷镀碳膜、铂膜等方式使其导电。
在PCB/PCBA失效分析应用方面，SEM主要应用于PCB/PCBA表面形貌的观察，通过形貌特征判断问题点和失效机理，比如焊点合金层（IMC）形貌、沉金镍腐蚀、干膜浮起、铜面微蚀形貌等。
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