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更新日期:2017/7/11 16:45:52
所 在 地:欧洲
产品型号:
简单介绍:高性能X射线荧光测试仪,配有可编程XY平台和Z轴,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素 ,高性能X射线荧光测量仪,配有的硅漂移探测器(SDD),可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
高性能X射线荧光测试仪,配有可编程XY平台和Z轴,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素
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