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产品展示

JEOL可移动式扫描电子显微镜

点击次数:2发布时间:2017/7/12 11:18:39

JEOL可移动式扫描电子显微镜

更新日期:2017/7/12 11:18:39

所 在 地:中国大陆

产品型号:JCM-5700

简单介绍:JEOL可移动式扫描电子显微镜JCM-5700是一台生产现场-研究室用SEM,在任何地方都可以使用的高性能可移动式SEM 。  运行成本低(长时间不用维护),检查项目-研究题目等各项条件均可记忆,任何人都可以得到良好结果的高度再现性。可以设定独立的操作条件,使用更加自由的MY SEM。

优质供应

详细内容

 

JEOL可移动式扫描电子显微镜

JEOL可移动式扫描电子显微镜
  • 产品编号: BHRB-SM007
  • 产品型号: JCM-5700
  • 所属类别: 扫描电子显微镜 - 日本电子扫描电镜
  • 所属品牌: 日本电子
  • 所属用途: 固体表面测量
  • 应用领域: 不限
产品特性:
JEOL可移动式扫描电子显微镜JCM-5700是一台在任何地方都可以使用
 

JEOL可移动式扫描电子显微镜JCM-5700产品详细介绍
JEOL可移动式扫描电子显微镜JCM-5700是一台生产现场-研究室用SEM,在任何地方都可以使用的高性能可移动式SEM 。 
运行成本低(长时间不用维护),检查项目-研究题目等各项条件均可记忆,任何人都可以得到良好结果的高度再现性。可以设定独立的操作条件,使用更加自由的MY SEM。
轻松获得几万倍的图像,简单友好的操作界面,仪器启动仅需3分钟。与光学显微镜和激光显微镜的比较,扫描电子显微镜(SEM)与光学显微镜和激光显微镜相比,具有焦距更深,分辨率更好的特点。相反,得不到象光学显微镜那样获得的纯自然光泽。我们利用扫描电子显微镜的主要特点,可以广泛应用于科研和生产。

扫描电子显微镜的与光学显微镜和激光显微镜的比较
光学显微镜<样品: 印刷基板> 扫描电子显微镜 JCM-5700

 
鲜明的SEM图像上进行高精度测量

从极低倍到高倍,在图像上就可以直接进行长度和角度测量,即在鲜明的图像上进行高精度测量。保存后的图像也可以用SMile View软件(选购件)打开并进行测量。

 

3D观察-测量(选购)
利用扫描电子显微镜焦深大的特点,可以进行立体的高度测量。同一个视野,倾斜角度改变10°左右,获得两张图像,进行高度测量。

 

不仅可以观察图像,还可以进行成分分析

不仅可以利用二次电子信息进行样品表面观察,还可以利用背散射电子成份衬度像进行异物及多层膜观察。另外,还可以使用能量分散型光谱仪(EDS)进行元素分析。日本电子产能谱仪JED-2300可以与主机实现一体化,将点镜扩展为分析型点镜。

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企业档案

  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
  • 法人:
  • 注册号:
  • 企业类型:代理商
  • 注册资金:人民币100万

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