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HM3-50测厚仪

点击次数:188发布时间:2017/7/27 14:25:18

HM3-50测厚仪

更新日期:2017/11/1 14:10:33

所 在 地:中国大陆

产品型号:HM3-50

简单介绍:基本功能厚度测量:平均值、点、沟槽、台阶测量,宽度测量,统计分析报表自动生成

优质供应

详细内容

 

测量原理

光谱共聚焦原理:是一束多波长混合光束,聚焦到一个点上,由于各种波长光线

折射率不同,聚焦的位置也不同。聚焦在物体反射表面上的波长的光线,经过聚

焦后通过一个微孔到达光谱分析仪器,其它波长的光线由于没有聚焦在物体表面,

反射的光线只有极少能通过微孔,因此测量光线波长就可以得到物体表面的高度。

该测量原理的优点是,对物体表面光学特征不敏感,可以测量各种颜色,各

种反射度,各种透射率,包括透明材料和镜面反射材料。而且由于光线从四面八

方照射到样品,对表面突变的边缘不易产生影响测量的阴影效应。由于光谱分析

仪器的分辨率可以达到纳米级别,且对外界干扰光不敏感,所以测量精度高且稳

定性好。

应用: 用于测量平面上微小的凸出或凹槽, 因为非接触测量不会损伤样品,

别适合对未固化的浆料、胶水、油墨湿膜进行高度和截面轮廓测量。该原理还可

以测量多层透明膜厚度。

色:

高精度高稳定性

探头分辨率提高到纳米级,有效分辨率22nm(0.022um)

 扫描轴*小步距1um,扫描时测量头移动样品不动,减少气流和震动影响

☆ 高刚性低热膨胀系数花岗石平台和构件,热源隔离设计 

 运动系统采用磁悬浮,超精密导轨

 控制系统采用光栅尺全闭环反馈控制

★ 高取样密度:测量时每截面可达5万个取样点,每毫米1000点

☆ 颜色无关和亮度无关的测量法,抗干扰能力强,环境光影响低

★ 高重复精度(< 0.1um于标准量块上),人为误差减少

 高速度,探头采样频率静态2000Hz,动态900Hz

★ 两点基板倾斜修正功能

☆ 数字传输:抗干扰,自动纠错,准确度高

 高灵活性和适应性

☆ 大样品测量:测量台面尺寸达540x500mm,更大可定制

★ 厚板测量:高达80mm,Z轴可35mm,探头可调45mm

微小目标测量:*小可测量宽度10um的目标

★ LED光源:寿命长

☆ 快速更换被测物:直接摆放被测物,速度快

★ 快速转换程序:自动记录*近程序,一键切换适合多生产线共享

测量原理受环境、材料影响小,可测量各种类型的浆料

★ 测量自动适应基板颜色和反光度,自动修正基板倾斜

 

☆ 数字传输:抗干扰,自动纠错,准确度高

 




 

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  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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