导电性原子力显微镜(AFM)原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM），具有原子级解析力，是微观表面结构的重要分析工具。主要原理是藉由针尖与试片间的原子作用力，使悬臂梁产生微细位移，以测得样品表面形貌起伏，可应用于多种材料表面检测。iST宜特AFM分析优势 两岸仅有可分析12吋wafer的AFM实验室，保存您完整wafer以便后续进行其他实验。外加其他功能显微镜，分析应用之范围更扩大。如CAFM导电式原子力显微镜（Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM）和SCM扫描式电容显微镜（Scanning Capacitance Microscopy，SCM)。 AFM服务项目： 薄膜粗糙度检测微观表面结构研究2D/3D材料表面形貌奈米级纵深分析 关于宜特：iST始创于1994年的台湾，主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海，全球现已有7座实验室12个服务据点，目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。