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产品展示

集成电路背面研磨实验

点击次数:0发布时间:2017/8/22 15:25:32

集成电路背面研磨实验

更新日期:2017/8/22 15:25:32

所 在 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:iST宜特始创于1994年,从IC线路除错修改起家,逐年拓展新服务,包括故障分析、可靠度验证、化学分析与有线无线认证等,建构完整IC验证与分析工程服务平台。服务范围囊括IC产业供应链上中下游之客群。随着云端、物联网、车联网的快速兴起,iST不仅专注核心服务,并关注规范趋势,不断拓展多元性服务,建置车用电子验证平台、高速传输讯号测试与无线讯号验证,与工艺材料分析技术。追求精确、效率、完美的i

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集成电路背面研磨公司,上海集成电路研磨,宜特检测集成电路背面研磨(Backside Polishing)工作原理:透过自动研磨机,从芯片背面进行研磨将Si基材磨薄至特定厚度后再进行抛光。主要目的在使后续的EMMI或OBIRCH可以顺利从芯片背面进行分析。应用:Backside EMMI / OBIRCH之样品前处理关于宜特:iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、材料分析、失效分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。集成电路背面研磨(Backside Polishing)

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