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产品展示

芯片开盖Decap

点击次数:0发布时间:2017/9/15 15:21:49

芯片开盖Decap

更新日期:2017/9/15 15:21:49

所 在 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:iST宜特始创于1994年,从IC线路除错修改起家,逐年拓展新服务,包括故障分析、可靠度验证、化学分析与有线无线认证等,建构完整IC验证与分析工程服务平台。服务范围囊括IC产业供应链上中下游之客群。随着云端、物联网、车联网的快速兴起,iST不仅专注核心服务,并关注规范趋势,不断拓展多元性服务,建置车用电子验证平台、高速传输讯号测试与无线讯号验证,与工艺材料分析技术。追求精确、效率、完美的i

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芯片开盖,芯片Decap开盖公司,上海芯片开盖,宜特检测芯片去层(Delayer)工作原理:化学蚀刻开盖 : 在IC封装胶体上,利用化学溶液,蚀刻一个大小及深度适中的区域,使打线或晶粒裸露,且不破坏及改变样品原来电性。雷射蚀刻开盖 : 利用雷射去除IC封装胶体,较一般化学蚀刻开盖定位精细,与化学蚀刻搭配使用,可减少样品与化学蚀刻液的接触时间,藉此提升实验良率。应用:通常为实验分析之步骤,后续实验可接续:外观异常检视 / 层次去除 / FIB / EMMI / 封装打线等等。关于宜特:iST宜特始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路的可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。芯片去层(Delayer)

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  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
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  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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