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产品展示

点针垫侦错检测

点击次数:0发布时间:2017/9/15 15:54:47

点针垫侦错检测

更新日期:2017/9/15 15:54:47

所 在 地:中国大陆

产品型号:

简单介绍:iST宜特始创于1994年,从IC线路除错修改起家,逐年拓展新服务,包括故障分析、可靠度验证、化学分析与有线无线认证等,建构完整IC验证与分析工程服务平台。服务范围囊括IC产业供应链上中下游之客群。随着云端、物联网、车联网的快速兴起,iST不仅专注核心服务,并关注规范趋势,不断拓展多元性服务,建置车用电子验证平台、高速传输讯号测试与无线讯号验证,与工艺材料分析技术。追求精确、效率、完美的i

相关标签:IC点针垫侦错检测 

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IC点针垫侦错,点针垫侦错公司,上海点针垫侦错检测,宜特检测点针垫侦错 (CAD Probe Pad)?FIB可在IC上做讯号撷取点。利用FIB将要量取之讯号点拉到IC表面,并利用机械式探针(Mechanical prober) 撷取IC内部讯号。利用Mechanical prober量测讯号时,将IC放到测试板提供测试所需之电压环境。一般IC内部讯号驱动能力较弱,可能推不动导线加上示波器的负载,造成方波变成三角波、DC准位降低等问题,可利用Active Probe来改善此现象。关于宜特:iST始创于1994年的台湾,主要以提供集成电路行业可靠性验证、失效分析、材料分析、无线认证等技术服务。2002年进驻上海,全球现已有7座实验室12个服务据点,目前已然成为深具影响力之芯片验证第三方实验室。点针垫侦错 (CAD Probe Pad)

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  • 会员类型:免费会员
  • 工商认证: 【未认证】
  • 最后认证时间:
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  • 企业类型:经销商
  • 注册资金:人民币万

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