型号：SN/RTS-3
北京SN/RTS-3手持式四探针测试仪现货供应RTS-3型手持式四探针测试仪体积小，精度高，测量范围宽，运用四探针原理能够测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻。
北京SN/RTS-3手持式四探针测试仪现货供应 技术参数：
| 北京SN/RTS-3手持式四探针测试仪现货供应测量范围 | 电阻率：0.01～1999.9Ω.cm；
方块电阻：0.1～19999Ω/□； |
| 恒流源 | 电流量程分为100μA、1mA两档，两档电流连续可调 |
| 数字电压表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV；
输入阻抗：>1000MΩ； 精度：±0.1%；
显示：以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；极性、超量程自动显示； |
| 四探针探头基本指标 | 间距：1±0.01mm； 针间绝缘电阻：≥1000MΩ； 机械游移率：≤0.3%；
探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)； |
| 四探针探头应用参数 | (见探头附带的合格证) |
| 模拟电阻测量相对误差
( 按JJG508-87进行) | 1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
| 整机测量相对误差 | (用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±5% |
| 整机测量标准不确定度 | ≤5% |
| 外型尺寸 | 185mm(长)*90mm(宽)*30mm(高) |
| 重量 | 350g |
| 电源 | 锂电池，一次充电可连续使用100小时； |
| 标准使用环境 | 温度：23±2℃； 相对湿度：≤65%； 无高频干扰； 无强光直射 |
适用场所：
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
在线咨询
